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Análisis metalográfico
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Pruebas de dureza
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- Durómetros Rockwell
- Durómetros Shore
- Durómetros Vickers / Knoop
- Indentador Brinell
- Indentador Rockwell
- Indentador Vickers / Knoop
Servicios
- Requisito No 1- Acreditación y alcance
- Requisito No 2- Instrumentos a calibrar
- Requisito No 3- Servicio Integral
- Requisito No 4- Regla de decisión
- Requisito No 5- Garantía de Satisfacción
C-Estereo Microscopio Leica S8 APO-SWA
A-Microscopios Estereoscopios
Código: C-Leica S8 APO
Estereo Microscopio Leica S8 APO-SWA
El microscopio estereoscópico Greenough Leica S8 APO con zoom apocromático 8:1 y 75 mm de distancia de trabajo permite un acceso fácil a la muestra, incluso con grandes aumentos de hasta 80x, lo que es ideal para aplicaciones de control de calidad.
El ángulo de visión
ángulo de visión ergonómico de 38° es más cómodo, lo que ayuda a aumentar la productividad, reducir los errores de inspección relacionados con la fatiga y adquirir el posicionamiento preciso al trabajar con luz incidente o transmitida. Las paradas de zoom ajustables permiten mediciones e inspecciones rápidas, fáciles y recuperables.